掃描電子顯微鏡（SEM）的零件

掃描電子顯微鏡的主要組件包括：

• 電子源–這是在1-40kV的電壓下通過熱產生電子的地方。電子會凝結成束，用于創建模擬圖像和分析。可以使用三種類型的電子源。e鎢絲，六硼化鑭和場發射槍（FEG）
• 透鏡–它有幾個聚光透鏡，將來自源的電子束聚焦通過柱，形成一個狹窄的電子束，形成一個稱為光斑尺寸的光斑。
• 掃描線圈–用于將光束偏轉到樣品表面。
• 探測器–由幾個探測器組成，這些探測器能夠區分二次電子，反向散射電子和衍射反向散射電子。檢測器的功能很大程度上取決于電壓速度，樣品密度。
• 顯示設備（數據輸出設備）
• 電源供應
• 真空系統

像透射電子顯微鏡一樣，掃描電子顯微鏡應沒有振動和任何電磁元素。