掃描電子顯微鏡（SEM）的應用

它用于各種*域，包括工業用途，納米科學研究，生物醫學研究，微生物學

1. 用于能量色散X射線光譜學中的點化學分析。
2. 用于分析很小的化妝品成分。
3. 用于研究微生物的細絲結構。
4. 用于研究工業中使用的元素的地形。

掃描電子顯微鏡（SEM）的優勢

• 它們易于操作并且具有用戶友好的界面。
• 它們在各種工業應用中用于分析固體物體的表面。
• 一些現代SEM能夠生成可移植的數字數據。
• 在大約5分鐘的短時間內，很容易從SEM獲取數據。

局限性

• 他們購買非常昂貴
• 它們體積龐大
• 它們必須在沒有振動和電磁元素的房間中使用
• 必須保持一致的電壓
• 他們應保持接觸冷卻系統

掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）的工作原理相結合，形成了掃描透射電子顯微鏡（STEM）。掃描透射電子顯微鏡（STEM）使用會聚電子束聚焦在樣品上的探針上，然后在其表面上掃描探針，收集信號，然后將其作為點對點收集以形成圖像。